罗德与施瓦茨高速数字与功率电子测试大会将于4月13-14日以在线的形式召开。大会将邀请来自硅谷和欧洲等多位半导体测试专家来分享关于PCIe/USB/DDR/HDMI高速数字芯片设计与测试和功率电子的最新技术。参会者将实时聆听技术主题演讲，参观在线展览，还可以与参会专家分不同技术主题沟通互动。

年4月13-14日15:00-23:00

诚邀您参加

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